产品详情
产品介绍
ST馈源作为基础型号,性能稳定可靠,适用于常规微波测量需求。
各产品型号 | |||||
技术参数 | 增益 | 驻波比 SWR | 交叉极化 | ||
双极化 | 标准馈源 | ST-0.3-0.8G-D | ≥8dBi | ≤1.8 | ≤-30dB |
ST-0.8-2G-D | ≥8dBi | ≤1.8 | ≤-30dB | ||
ST-2-4G-D | ≥8dBi | ≤1.8 | ≤-30dB | ||
ST-4-8G-D | ≥8dBi | ≤1.8 | ≤-30dB | ||
ST-S1-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
ST-S2-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
ST-C-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
ST-XC-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
ST-X-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
ST-Ku-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
ST-K-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
ST-Ka-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
宽带馈源 | ST-0.3-1G-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | |
ST-1-2G-D | ≥8dBi | ≤2 | ≤-30dB | ||
单极化 | 标准馈源 | ST-S1-S | ≥9.5dBi | ≤1.3 | ≤-40dB |
ST-S2-S | ≥9.5dBi | ≤1.3 | ≤-42dB | ||
ST-C-S | ≥9.5dBi | ≤1.3 | ≤-43dB | ||
ST-XC-S | ≥9.4dBi | ≤1.5 | ≤-41dB | ||
ST-X-S | ≥9.5dBi | ≤1.5 | ≤-40dB | ||
ST-Ku-S | ≥11.6dBi | ≤1.4 | ≤-40dB | ||
ST-K-S | ≥11.6dBi | ≤1.5 | ≤-42dB | ||
ST-Ka-S | ≥11.6dBi | ≤1.5 | ≤-43dB | ||
技术特点
ST系列2~40GHz标准波段采用波纹喇叭设计,双极化型号支持水平/垂直双线极化,支持全频段自动化电控极化切换测试,交叉极化抑制≤-30dB,增益均≥8dBi,单极化型号同样采用波纹喇叭设计,已经在紧缩场中得到广泛应用;NS系列覆盖高增益、超宽带、宽波束各类非标馈源型号,驻波比普遍≤2,全系列通过全波仿真与暗室实测验证。
应用背景
面向常规微波测量场景,如卫星天线、通信天线测试等,也可用于电磁特性精密测试(如紧缩场天线方向图校准、目标散射特性分析)及RCS测试需求,适用于需全频段覆盖、极化灵活切换或多频段快速扫描的场景,支持全频段极化切换与信号分析。
技术优势
本馈源系统具备全频段覆盖能力(0.3~40GHz),支持双极化电控切换和单极化宽频配置,满足多种测试场景需求。系统在辐射性能方面表现优异,低频段增益≥7dBi,高频段增益可达11.5dBi,方向图稳定且波束宽度控制精准。同时,馈源具有良好的阻抗匹配特性(驻波比性能优秀),确保信号传输效率。系统兼容性强,支持多馈源集成和自动切换,通过仿真验证及完备的实测验证(包括方向图、驻波比及交叉极化测试),保证性能可靠。所有技术参数均来源于仿真及实测数据,可满足全方位测试要求。
核心特点
(1)基础性能稳定
专为单反射面紧缩场设计,波束较宽,与反射面理想匹配,可显著降低静区电场幅度的锥削和波纹,相位中心稳定,工作频段内与反射面焦点重合,确保测试精度。
(2)标准化接口与兼容性
采用N型、SMA、2.92等标准射频接头,便于快速连接电缆。
配备专用连接支架,提升安装精度并减少支架对辐射方向图的干扰。
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