相控阵测试方案
产品简介
提供专业的紧缩场相控阵测试系统,集成了高性能反射面、精密天线转台及多频段馈源,在微波暗室内构建准平面波测试环境。支持相控阵方向图、增益、波束扫描精度等核心测量指标,满足军工、通信及雷达领域对天线的等效远场测试需求,确保被测件性能的准确性,提升测试效率。
应用背景
相控阵技术规模化应用: 5G/6G通信、相控阵雷达及卫星载荷领域广泛部署有源相控阵天线,其波束赋形性能与扫描精度需高置信度验证。传统远场测试受瑞利距离约束,紧缩场将提供等效远场测试解决方案。
大型阵列远场测试约束:超大型相控阵天线难以满足常规暗室远场条件(R>2D²/λ)。紧缩场系统基于反射面波前重构原理,通过反射面将馈源辐射的球面波在有限距离内转换为平面波,突破大孔径阵列测试的物理限制。
技术特点
系统组成 核心测试项 |
![]() |
系统指标 数据分析 |
北京中测国宇科技有限公司

电话:010-82233321
电邮:sales@g-mt.cn

办公地址:北京市海淀区知春路23号量子银座801室
工厂地址:北京市昌平区沙河镇昌平路97号7幢102(昌平示范园)
成都办事处地址:四川省成都市青羊区西货站路6号安格斯恒通中心北塔10层1007号

服务号

视频号
© 2025北京中测国宇科技有限公司
图片alt标题设置: 北京中测国宇科技有限公司
循环体没有内容时: 资料还在更新中,请耐心等待。
CSS / JS 文件放置地

在线留言