超高速宽带近场分布显微系统

产品简介：
超高速宽带近场分布显微系统，提供超高速、超宽带和超分辨率的电磁场分布测量能力。该系统以其独特的光控等离子体散射原理和超宽带响应，能够实现从100MHz到200GHz的天线近场幅相测量，是能够满足众多种类天线测试需求的桌面级近场测试系统。

技术介绍：
将极薄的光敏半导体材料放置在待测电磁场区域。控制激光照射到光敏半导体材料待测区域内的指定点，在激光照射点区域发生光电导效应并产生由电子空穴对构成的光生等离子体。利用这种光生等离子体对于待测电磁场的散射，通过接受并处理该散射信号，就可以得到照射点处的电磁场幅值和相位。控制激光快速扫描测量区域内的每一点，就可以快递得到测量区域内电磁场的矢量分布。这种全新的方法可以在几秒内获得电磁场的矢量场分布，并且具有超分辨、超快速、超宽带等诸多优点。

核心特点：
▶ 超宽带响应：覆盖100MHz至200GHz频段的测量需求。
▶ 超分辨率：达到约1mm的分辨率，小于微波频段波长，提供精细的测量结果。
▶ 超快测量速度：实现秒级二维幅相分布的快速测量，大幅提升测试效率。
▶ 适用多类型天线：口径类、贴片类、阵列型；适用于广泛的天线类型。
▶ 成像与诊断：能够进行天线工作状态、阵列单元辐射性能等近实时诊断。

应用领域：
▶ 天线性能测量：类似于多探头平面近场，提供天线辐射特性的近实时测量。
▶ 阵列天线诊断：高效、直观且直接的辐射单元辐射性能诊断。
▶ 电磁兼容检测：近实时微波电路泄露波检测。

技术优势：
▶ 新机制电磁波测量方法：电磁波可视化，提供直观的电磁场分布图像。
▶ 测试性能跃升：通过超高速、超宽带和超分辨率的测量，显著提升测试性能。
▶ 适应广、低成本：系统设计考虑了广泛的应用场景，同时保持成本效益。